...we test it!

Analýzy vad materiálů

Pohled na trhlinu při 60 násobném zvětšení prostřednictvím REM
Poškození únavou materiálu 2000 krát zvětšeno prostřednictvím REM

K určení příčiny materiálových vad je používán skenovací elektronový mikroskop (REM). Například pro analýzy poškození a další podobné testy jako:

  • Analýza struktury materiálů a povrchových poškození

  • Zkoušky homogenity materiálů

  • Lokální chemické analýzy s energiově disperzní RTG analýzou (EDM)